介質(zhì)損耗產(chǎn)生的原因分析

介質(zhì)損耗是絕緣介質(zhì)在交流電場作用下的能量損失。在一定的電壓和頻率下，反映絕緣介質(zhì)內(nèi)單位體積中能量消耗的大小，它與介質(zhì)體積尺寸大小無關(guān)。數(shù)值上為介質(zhì)中的電流有功分量與無功分量的比值，它的大小用介質(zhì)損失角的正切值tgδ表示，是一個無量綱的數(shù)。 用介質(zhì)損失角的tgδ來判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、比較靈敏有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大，進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因，如絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。  那么介質(zhì)損耗產(chǎn)生的原因 是哪些呢？
介質(zhì)損耗產(chǎn)生的原因由復(fù)合材料絕緣體的等值電路可分析得出，凡是帶有電阻性的電路，其能量的轉(zhuǎn)變是以能量消耗的形式出現(xiàn)；而帶有電容電路中能量的轉(zhuǎn)變是以能量儲存的形式出現(xiàn)，能量并沒有消耗，在一定條件下又可進(jìn)行轉(zhuǎn)換被釋放出來。所以能量被損耗的是電阻電路的那一部分，稱為有功分量；電容電路中被儲存的那一部分，稱為無功分量，能量并沒有消耗。